Mikrowellenscanner für die zerstörungsfreie Materialprüfung
         
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Mikrowellen haben wie alle Funkwellen die herausragende Eigenschaft, nichtmetallische feste Körper durchdringen zu können. Sie sind daher für zerstörungsfreie Prüfungen bestens geeignet.

Im Innerem der untersuchten Objekte findet dabei eine Wechselwirkung mit den elektrischen und magnetischen Eigenschaften des Körpers statt. Besonders die dielektrischen Parameter der zu untersuchenden Materialien, die von Stoff zu Stoff deutlich variieren können, sorgen für gut detektierbare Unterschiede.

Aus den mit den Mikrowellenscannern aufgenommenen Flächenverteilungen der dielektrischen Eigenschaften lassen sich je nach Aufgabenstellung Aussagen zu verschiedenen physikalischen Größen ableiten:

Materialfeuchte

Materialdichte

Materialinhomogenitäten (Risse, Lunker, Hohlstellen)

Geometrie von Schichten und Schichtaufbauten

Anwesenheit und Geometrie konstruktiver Bestandteile

Ein einzelner Mikrowellensensor liefert dabei immer nur eine Punkt- oder Linieninformation. Die Aufnahme flächenhafter Verteilungen wird erreicht durch Anordnung der Sensoren in einer Zeile oder in einem Array.

Die Detektierbarkeit der gesuchten Eigenschaft hängt stark vom dielektrischen oder magnetischen Kontrast ab.

Mikrowellenscanner und Microwave-Vision-Systeme der EM VISION - Serie können sowohl reflektiv als auch transmittiv aufgebaut werden. Transmissionsanordnungen mit jeweils gegenüberliegenden Sender- und Empfängersensoren haben den Vorteil, dass dank des Durchstrahlungsprinzips mit ihnen immer der gesamte Materialquerschnitt erfasst wird. Sie gestatten jedoch keine Aussagen zur Tiefenverteilung der gesuchten Eigenschaft.

Dies wird mit Mikrowellenscannern in reflektiver Bauweise möglich. Die Aufnahme der dielelektrischen Eigenschaften mit reflektiven Mikrowellensensoren ist immer auf eine bestimmte Wechselwirkungstiefe beschränkt. Werden die Signale mehrerer solcher reflektiven Mikrowellensensoren mit unterschiedlichen Wechselwirkungstiefen miteinander verknüpft, erhält man Informationen aus verschiedenen Tiefenschichten der Untersuchungsobjekte. Auf diese Weise ist eine quasi-dreidimensionale zerstörungsfreie Untersuchung möglich.

         
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